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X射線空間分辨力測(cè)試卡 產(chǎn)品名稱： X射線分辨力測(cè)試卡 產(chǎn)品廠家：廊坊玉雙儀器設(shè)備有限公司，生產(chǎn)加工：X射線分辨力測(cè)試卡 產(chǎn)品介紹：X射線分辨力測(cè)試卡，也稱為線對(duì)卡，是一種專門用于測(cè)試X射線成像設(shè)備分辨率的工具。這種測(cè)試卡通常由一系列線對(duì)組成，這些線對(duì)具有不同的線對(duì)每毫米(LP/MM)值，量程一般在0.6-5.0LP/MM之間。通過這些線對(duì)，可以評(píng)估X光影像系統(tǒng)的

CRDR分辨率測(cè)試卡，設(shè)備概述射線分辨率測(cè)試卡是一種專門用于評(píng)估X射線成像設(shè)備性能的檢測(cè)工具。這種測(cè)試卡通常由一系列不同線對(duì)組成的圖案構(gòu)成，通過這些圖案可以確定設(shè)備能夠清晰地呈現(xiàn)細(xì)微結(jié)構(gòu)的能力。射線分辨率測(cè)試卡的存在，對(duì)于確保新設(shè)備投入使用前或現(xiàn)有設(shè)備維護(hù)后的性能達(dá)標(biāo)，以及定期的質(zhì)量程序，都起到了重要的作用。

CRDR分辨率測(cè)試卡，是一種用于檢測(cè)CR（Computed Radiography，計(jì)算機(jī)放射成像）和DR（Digital Radiography，數(shù)字放射成像）系統(tǒng)空間分辨率的工具。這種測(cè)試卡通常由一系列線對(duì)組成，這些線對(duì)具有不同的線對(duì)每毫米（LP/MM）值，量程一般在0.6-5.0LP/MM之間。通過這些線對(duì)，可以評(píng)估X光影像系統(tǒng)的分辨率性能。 使用CRDR分辨率測(cè)試卡時(shí)，

X射線衰減銅板鋁板鉛板X射線衰減銅板和鋁板是用于X射線檢測(cè)中的一種重要材料。它們可以通過吸收和散射X射線來降低射線的強(qiáng)度，從而在X射線攝影或探傷中起到關(guān)鍵作用。以下是關(guān)于X射線衰減銅板鋁板的一些詳細(xì)信息： X射線衰減銅板的應(yīng)用

乳腺X射線攝影對(duì)比度細(xì)節(jié)模體CDMAM3.4乳腺X攝影對(duì)比度細(xì)節(jié)模體CDMAM3.4是一種專門用于監(jiān)測(cè)模擬和數(shù)字乳腺X射線攝影系統(tǒng)技術(shù)方面的質(zhì)量的模體。它被廣泛認(rèn)為是世界黃金標(biāo)準(zhǔn)，并在歐洲數(shù)字乳腺X線攝影質(zhì)量確保（QA）相關(guān)協(xié)議中進(jìn)行了描述。 CDMAM3.4模體的技術(shù)參數(shù) CDMAM3.4模體的設(shè)計(jì)使得它能夠檢測(cè)非常低的對(duì)比度和非常小的細(xì)節(jié)。具體的技術(shù)參數(shù)包括： 基座：0.5毫米厚的鋁基座