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X射線空間分辨力測(cè)試卡 產(chǎn)品名稱: X射線分辨力測(cè)試卡 產(chǎn)品廠家:廊坊玉雙儀器設(shè)備有限公司,生產(chǎn)加工:X射線分辨力測(cè)試卡 產(chǎn)品介紹:X射線分辨力測(cè)試卡,也稱為線對(duì)卡,是一種專門用于測(cè)試X射線成像設(shè)備分辨率的工具。這種測(cè)試卡通常由一系列線對(duì)組成,這些線對(duì)具有不同的線對(duì)每毫米(LP/MM)值,量程一般在0.6-5.0LP/MM之間。通過(guò)這些線對(duì),可以評(píng)估X光影像系統(tǒng)的
CRDR分辨率測(cè)試卡,設(shè)備概述射線分辨率測(cè)試卡是一種專門用于評(píng)估X射線成像設(shè)備性能的檢測(cè)工具。這種測(cè)試卡通常由一系列不同線對(duì)組成的圖案構(gòu)成,通過(guò)這些圖案可以確定設(shè)備能夠清晰地呈現(xiàn)細(xì)微結(jié)構(gòu)的能力。射線分辨率測(cè)試卡的存在,對(duì)于確保新設(shè)備投入使用前或現(xiàn)有設(shè)備維護(hù)后的性能達(dá)標(biāo),以及定期的質(zhì)量程序,都起到了重要的作用。
CRDR分辨率測(cè)試卡,是一種用于檢測(cè)CR(Computed Radiography,計(jì)算機(jī)放射成像)和DR(Digital Radiography,數(shù)字放射成像)系統(tǒng)空間分辨率的工具。這種測(cè)試卡通常由一系列線對(duì)組成,這些線對(duì)具有不同的線對(duì)每毫米(LP/MM)值,量程一般在0.6-5.0LP/MM之間。通過(guò)這些線對(duì),可以評(píng)估X光影像系統(tǒng)的分辨率性能。 使用CRDR分辨率測(cè)試卡時(shí),
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